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                    方阻計注意事項

                    日期:2022-10-09 08:29
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                    摘要:
                    方阻計注意事項
                      如果方阻值比較小,如在幾個歐姆以下,因為存在接觸電阻以及萬用表本身性能等因素,用萬用表測試就會存在讀數不穩和測不準的情況。這時就需要用專門的用四端測試的低電阻測試儀器,如毫歐計、微歐儀等。測試方法如下:用四根光潔的圓銅棒壓在導電薄膜上,二所示。四根銅棒用A、B、C、D表示,它們上面焊有導線接到毫歐計上,我們使BC之間的距離L等于導電薄膜的寬度W,至于AB、CD之間的距離沒有要求,一般在10--20mm就可以了,接通毫歐計以后,毫歐計顯示的阻值就是材料的方阻值。這種測試方法的優點是:(1)用這種方法毫歐計可以測試到幾百毫歐,幾十毫歐,甚至更小的方阻值,(2)由于采用四端測試,銅棒和導電膜之間的接觸電阻,銅棒到儀器的引線電阻,即使比被測電阻大也不會影響測試精度。(3)測試精度高。由于毫歐計等儀器的精度很高,方阻計方阻的測試精度主要由膜寬W和導**BC之間的距離L的機械精度決定,由于尺寸比較大,這個機械精度可以做得比較高。方阻計在實際操作時,為了提高測試精度和為了測試長條狀材料,W和L不一定相等,可以使L比W大很多,此時方阻Rs=Rx*W/L,Rx為毫歐計讀數。
                      影響探頭法測試方阻精度的因素:
                     ?。?)要求探頭邊緣到材料邊緣的距離大大于探針間距,一般要求10倍以上。
                     ?。?)要求探針頭之間的距離相等,否則就要產生等比例測試誤差。
                     ?。?)理論上講探針頭與導電薄膜接觸的點越小越好。但實際應用時,因針狀電極容易破壞被測試的導電薄膜材料,所以一般采用圓形探針頭。

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